国产消费级SSD首次中子试验：忆联AM541在极端辐射环境下为客户提供更高保障

在数字信息飞速发展的今天，固态硬盘作为电脑的核心部件、数据存储的核心设备，其可靠性已成为衡量产品质量的重要标准。一款质量过硬的硬盘，能够经受各种复杂环境的考验：无论是在平原广袤之地，还是在高原的崎岖之巅，抑或是在环境最为极端的太空空间站，都能保证正常的运行、稳定的性能表现。

然而，在一般情况下我们的产品却很难有机会触及到以上的每一种场景。近日，忆联针对消费级SSD AM541开展大气中子试验，该测试通过加载极端大气中子辐射环境，以测试AM541的可靠性。

为什么用中子试验验证固态硬盘可靠性？

中子，在自然界中无处不在，尤其在高原地区，中子通量随着海拔的升高而急剧增加。中子对固态硬盘具有潜在威胁，它能与半导体微电子相互作用会引发单粒子效应（SEE），导致器件功能异常、数据丢失甚至损毁。尤其是在高海拔等中子密度高的地区，这种威胁更为严峻，一旦引发故障，不仅会影响我们正常的工作和生活，也极有可能造成不可估量的经济损失。

为应对这一挑战，忆联以AM541为样本，在中国散裂中子源大气中子辐照谱仪开展了系列测试，通过监测其在极端中子辐射环境下的正常工作时间，以验证其在极端场景中的高可靠性，真正让用户使用无忧。

中子试验：百万倍大气中子注量率，AM541通过严苛“考验”

试验选取忆联AM541及国内友商的同类产品A，以相同样本量、相同的试验环境进行测试：所有盘片均以2.67×10(5)n/cm(2)·s的中子注量率进行辐照，直至盘片失效或测试时长超过20分钟，试验过程中通过自动化试验脚本记录硬盘正常运行时间。

中子辐照现场图

据中子试验相关专家介绍，此次试验采用的中子注量率远超自然环境的中子强度，即使相对于海拔较高的阿里、西藏等高原地区，本次试验的中子密度也超过百万倍，通过监测硬盘在试验环境下的工作时间，可推算出样品在各种复杂环境中的平均故障时间及可靠性。

经过多组试验显示，在2.67×10(5)n/cm(2)·s中子注量率辐照下, AM541的平均运行时间可达12.5分钟，远远高于友商产品A的9.2分钟，这表明在相同环境下，AM541具有更高的可靠性。

高海拔地区三年失效率仅0.0033%，AM541高可靠保障用户使用无忧

西藏拉萨，作为绝大多数人心驰神往的旅游胜地，其平均海拔高达3600多米，这几乎已经是自然条件下固态硬盘所面临的最为极端的考验。

以拉萨3650米海拔作为参考，AM541在3600+米高海拔地区的首年失效概率仅为0.0003%（可靠度99.9997%），产品质保期3年失效概率仅为0.0033%（可靠度99.9967%）。相比之下忆联AM541的可靠性指标远远高于友商，可为用户营造满满的“安全感”。

1stAFT:首年失效率；PPM：百万分之一

作为忆联具有代表性的自研消费级产品，忆联对 AM541进行面向极端可靠性的深度设计和优化，实现了其在诸多实际应用场景、极端环境下的高可靠性及稳定性，为数据存储“保驾护航”。

当下，随着AI PC快速普及、大模型应用加速落地终端，个人数据价值不断提升的同时，也对数据安全也提出了更高要求。忆联深耕闪存领域二十余年，并持续致力于存储技术创新和产品升级，可以提供更高可靠性的产品及解决方案。未来，忆联将精准洞察行业趋势，推出更多高性能、高可靠的存储解决方案，为人工智能在客户端的落地应用提供强大的存力支撑。

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